2012年7月2日，“光电成像器件抗辐射性能检测设备”通过了中国科学院计划财务局组织的专家验收。

该研制项目在国内首次建立了定量评价光电成像器件抗辐射性能的检测设备；首次实现了辐照试验中CCD等光电成像器件性能参数较全面的定量检测与分析；形成的光电成像器件抗辐射性能检测技术与方法，填补了国内光电成像器件检验领域的空白，为相关检测工作的标准化和规范化奠定了基础。