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“FPGA专用集成电路自动测试系统”研制项目通过验收

2012年5月31日,中国科学院计划财务局组织专家在电子学研究所对“FPGA专用集成电路自动测试系统”研制项目进行了现场验收。验收专家组听取了项目组的工作报告和经费决算报告、使用人员的使用报告、测试专家组的测试报告,现场核查了装备运行情况,查阅了相关的文件档案及财务账目,认为项目组完成了任务书规定的各项研制任务,各项技术指标达到或优于任务书规定的要求,一致同意通过验收。

“FPGA专用集成电路自动测试系统”具有集成度高、精度高、通道资源丰富、测量范围广等特点,适合对FPGA芯片的逻辑功能、工作性能、静态动态参数进行测试,可以快捷准确的判断FPGA芯片的故障位置及原因,从而验证芯片设计方案的正确性。该测试系统数字通道数目为256个,测试向量深度128Mbit,最高数据速率50MHz,具有多路精密基准源和电压电流源,电压与电流基准精度0.1%,参数测量精度0.1%,人机界面友好,便于使用。

该系统的研制成功不仅可以解决电子所承担的国家重大专项FPGA芯片研制中面临的迫切测试问题,还将进一步推动国内FPGA专用测试设备研制技术的发展。

FPGA专用集成电路自动测试系统

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